$西测测试(sz301306)$新增概念：『存储芯片』
概念解析：根据公司招股说明书：公司采用算法图形和APG技术实现存储器地址自动累加、翻页功能，实现存储器数据的自动写入、输出比较，实现了对EEPROM、SRAM、NOR fl ash、NAND fl ash、EMMC等存储芯片读写擦除功能的自动测试。
新增时间：2024-06-14 22:46:12
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西测测试(sz301306)新增概念：存储芯片
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