高加速寿命测试HAST_胜科纳米（苏州）股份有限公司

测试服务 全部分类 高加速寿命测试HAST - 分类：测试服务 - 发布时间：2022-05-18 17:12:44 - 访问量：0 概要: 详情 1、项目介绍 高加速的温度和湿度压力测试（HAST）是一个高度加速，以温度和湿度为基础的电子元件可靠性试验方法。HAST也称为压力测试（PCT）或不饱和压力试验（USPCT）。其目的是评估测试样本，通过将试验室中的水蒸汽压力增加到一定的耐湿性。比试样内部的部分水蒸汽压力高得多。这个过程暂时加速水分渗入样品中。胜科纳米主要进行UBHAST（非偏压高速寿命试验）及BHAST（高加速温湿度及偏压测试）。 实验目的：评估IC产品在偏压，高温，高湿，高气压条件下对湿度的抵抗能力，加速其失效过程。 测试条件：130℃，85%RH，1.1VCC，Static bias，230Kpa 96H 110℃，85%RH，1.1VCC，Static bias，122Kpa 264H 失效机制：分层 、电离腐蚀、电性能开/短路、封装密封性 失效原因： （1）因为焊盘被腐蚀造成线路开路 （2）因为吸潮或离子迁移造成短路或漏电 （3）PN结电阻增加，造成的电流漂移 改善措施： （1）提高EMC和PCB之间的粘结力 （2）选用低吸湿性的EMC，高粘结力的EMC 参考标准：JESD22-A110/A118) 扫二维码用手机看