活动回顾丨CTI华测检测顺利举办“聚焦光老化—消费类与车规级电子技术研讨会”

聚焦消费类与车规级电子

近日，由华测检测认证集团股份有限公司（以下简称"CTI华测检测"，股票代码：300012）举办、美国Q-Lab公司（以下简称“美国Q-Lab”）与佛山市翁开尔贸易有限公司（以下简称“翁开尔”）共同参与的光老化技术研讨会，在CTI华测检测深圳总部新大楼T1培训室顺利举行。

本次会议以“消费类与车规级电子的光老化测试及实战案例深度分享”为主题，围绕光老化测试原理与典型实战案例展开深入交流，吸引了众多行业同仁到场参与。

CTI华测检测C&R产品线深圳业务负责人康凯致开幕辞。康凯代表主办方对各位嘉宾的莅临表示热烈欢迎，并简要介绍了CTI华测检测在材料可靠性测试领域的能力布局。他表示，本次研讨会旨在推动各方深度联动、优势互补，为客户提供更完整、更高效的光老化一站式解决方案。

CTI华测检测C&R产品线深圳业务负责人康凯

CTI华测检测高级工程师梁雨轩带来光老化实战案例分享。梁雨轩结合具体项目，从测试方案设计、过程控制到结果分析，对过往测试经验进行了完整复盘，将理论原理与工程实践紧密结合，为参会者提供了切实可借鉴的操作思路。

CTI华测检测高级工程师梁雨轩

美国Q-Lab高级技术经理瞿华盛带来光老化原理专题分享，系统地阐述了光照、温度、湿度等因素对材料老化的影响机制，并深入解析了氙灯、紫外等不同老化测试方法的选择逻辑。

翁开尔市场部经理邓锦文登台发言，围绕其设备的核心性能、技术优势及典型应用场景作了系统介绍，为来宾呈现了光老化测试领域的前沿装备实力。

美国Q-Lab高级技术经理瞿华盛

翁开尔市场部经理邓锦文

本次研讨会搭建了兼具理论深度与实战价值的技术交流平台，为行业同仁提供了经验分享与相互学习的契机。未来，CTI华测检测将持续携手行业伙伴，深化可靠性测试领域的技术交流与协同创新，共同提升行业技术水平，以专业力量助推行业高质量发展。敬请持续关注。