Product — 全自动高精度芯片键合设备
±1μm 的精准:高精度共晶键合新选择
联得半导体·全自动高精度芯片键合设备COC / COS 共晶工艺共晶 + 银胶双工艺模块化配置联得半导体专为 COC、COS 共晶工艺打造的全自动高精度芯片键合设备,标准片键合精度可达 ±1μm,兼具共晶与银胶两种键合工艺能力,可覆盖从研发打样到批量生产的全流程需求。
【全自动高精度芯片键合设备】
01 — 高精度键合
高精度键合,从「±1μm」开始
光通信、激光雷达、传感器等器件的封装,对芯片键合的位置精度与一致性要求严格,位置偏差将直接影响器件性能与良率。全自动高精度芯片键合设备专为 COC、COS 共晶工艺开发,标准片键合精度达 ±1μm,可满足此类应用场景的要求。
02 — 双工艺覆盖
一台设备,覆盖两大工艺
设备同时支持共晶键合与银胶键合两种工艺,可完成蘸胶、点胶等多种作业方式。两种工艺可在同一设备上完成,无需分别配置产线,既减少设备投入,也便于产品切换。
03 — 模块化配置
模块化配置,灵活适配产线
设备兼容 Wafer、Waffle、Gel-PAK 等多种上料形式,取放头与贴装头支持自动更换,可快速适应不同产品形态的切换。焊台标配脉冲加热系统与氮气保护腔体,贴装头可选配加热模块,以扩展工艺适应范围。配置可根据产线需求灵活选配,并支持随工艺升级持续扩展。
04 — 稳定可靠
从研发到量产,稳定可靠
设备兼顾研发阶段的试样小批量试制与工业化大批量生产,可覆盖从验证到量产的全过程。对于精度要求较高的封装场景,设备运行稳定、调试频次低,可满足产线对稳定性的要求。
Specs — 核心参数一览
核心参数一览
参数项
SPECS / 规格 · 说明
贴装方式
正面 / 背面基准贴装
封装工艺及场景
COS 、 COC 等共晶贴装(蘸胶、点胶)
贴装精度
X/Y ±1μm 、 θ ±0.1°(标准片); X/Y ±3μm 、 θ ±0.2°(视具体产品)
键合头力控
10-900g 全闭环控制(0.2~0.5N 对应 ±5%;0.5~8.8N 对应 ±10%)
键合头温控
标配无,可选配 Plus Heater , RT~450°C ,升温速率 >100°C/s
如需了解更多设备细节,或希望评估设备与自身产线的适配情况,欢迎联系联得半导体。
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