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±1μm 的精准:高精度共晶键合新选择

 LIANDE · 联得半导体2026.08 · 产品简介

Product — 全自动高精度芯片键合设备

±1μm 的精准:高精度共晶键合新选择

 联得半导体·全自动高精度芯片键合设备COC / COS 共晶工艺共晶 + 银胶双工艺模块化配置

联得半导体专为 COC、COS 共晶工艺打造的全自动高精度芯片键合设备,标准片键合精度可达 ±1μm,兼具共晶与银胶两种键合工艺能力,可覆盖从研发打样到批量生产的全流程需求。

【全自动高精度芯片键合设备】

 

01 — 高精度键合

高精度键合,从「±1μm」开始

光通信、激光雷达、传感器等器件的封装,对芯片键合的位置精度与一致性要求严格,位置偏差将直接影响器件性能与良率。全自动高精度芯片键合设备专为 COC、COS 共晶工艺开发,标准片键合精度达 ±1μm,可满足此类应用场景的要求。

02 — 双工艺覆盖

一台设备,覆盖两大工艺

设备同时支持共晶键合与银胶键合两种工艺,可完成蘸胶、点胶等多种作业方式。两种工艺可在同一设备上完成,无需分别配置产线,既减少设备投入,也便于产品切换。

03 — 模块化配置

模块化配置,灵活适配产线

设备兼容 Wafer、Waffle、Gel-PAK 等多种上料形式,取放头与贴装头支持自动更换,可快速适应不同产品形态的切换。焊台标配脉冲加热系统与氮气保护腔体,贴装头可选配加热模块,以扩展工艺适应范围。配置可根据产线需求灵活选配,并支持随工艺升级持续扩展。

04 — 稳定可靠

从研发到量产,稳定可靠

设备兼顾研发阶段的试样小批量试制与工业化大批量生产,可覆盖从验证到量产的全过程。对于精度要求较高的封装场景,设备运行稳定、调试频次低,可满足产线对稳定性的要求。

Specs — 核心参数一览

核心参数一览

参数项

SPECS / 规格 · 说明

贴装方式

正面 / 背面基准贴装

封装工艺及场景

COS 、 COC 等共晶贴装(蘸胶、点胶)

贴装精度

X/Y ±1μm 、 θ ±0.1°(标准片); X/Y ±3μm 、 θ ±0.2°(视具体产品)

键合头力控

10-900g 全闭环控制(0.2~0.5N 对应 ±5%;0.5~8.8N 对应 ±10%)

键合头温控

标配无,可选配 Plus Heater , RT~450°C ,升温速率 >100°C/s

 

如需了解更多设备细节,或希望评估设备与自身产线的适配情况,欢迎联系联得半导体。

LIANDE · 联得半导体专注封测设备

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