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以精准检测 护航电力电子 —— 多浦乐超声扫描显微镜重磅亮相PCIM


2026 PCIM







2026年8月26日至28日,深圳国际电力元件、可再生能源管理展览会PCIM 在深圳国际会展中心成功举办。作为亚洲电力电子领域的年度盛会,吸引来自世界各地的专业观众莅临现场,全面覆盖功率半导体、材料与封装、无源器件、传感器、电源管理、测试测量等细分领域。






多浦乐参会 



多浦乐携针对电力电子元器件检测的最新研发成果——超声扫描显微镜(SAM)重磅亮相本届展会,此次展出的Doppler Eagle 400系列设备,为IGBT、覆铜陶瓷基板(AMB/DBC)等电力电子核心器件的无损检测提供了高效精准的国产化解决方案,成为展会现场备受关注的一大亮点。


Doppler Eagle 400 系列超声扫描显微镜专为半导体、电力电子领域微米级内部缺陷检测打造。设备依托脉冲回波与透射超声原理,采用高频声波实现材料内部结构无损成像,能够精准识别分层、孔隙、裂纹、界面结合不良、厚度异常等缺陷,在不破坏样品的前提下输出内部质量检测数据。



设备配备了先进的筛选功能,能够高效准确地定位并锁定待检测区域,并支持对多款同类产品进行批量扫查,极大地提升了检测效率与准确性。同时,设备实现了智能计算与缺陷自动识别,可快速自动识别裂纹、夹杂物、孔隙等各类潜在缺陷,显著降低人为因素导致的误判率,为产品质量管控与失效故障预防提供可靠数据支撑。


   超声扫描显微镜核心参数   




01X轴最大扫描速度:1000 mm/s




02脉冲重复频率:65 kHz




03光栅尺分辨率:0.1 μm




04最小成像精度:0.5 μm/pixel




05增益调节范围:-32~80dB




06探头频率配套:5~200 MHz





  展位现场  



展会期间,多浦乐在展位现场对覆铜陶瓷基板(AMB/DBC)、IGBT 等电力电子典型工件进行了实时检测演示。超声扫描显微镜快速完成高分辨率内部缺陷成像,清晰呈现分层、孔隙、裂纹等关键缺陷,优异的检测性能吸引了众多专业客户驻足交流。


多浦乐工程师在展位现场耐心向客户讲解产品的性能特点与技术优势,针对不同检测应用场景提供了专业的解决方案建议。不少客户对设备的检测精度、批量扫查效率及智能化缺陷识别能力给予了高度评价,并现场表达了送样检测及进一步合作意向。





  展望未来  



感谢行业客户对多浦乐的认可与支持。作为工业超声检测领域的上市企业,多浦乐将持续加码半导体及电力电子无损检测设备的研发投入,不断完善超声扫描显微镜产品矩阵,加速技术创新与迭代升级,以更多优质国产尖端装备,助力我国半导体及电力电子产业高质量发展。




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