叠层成像(Ptychography)是一种计算显微技术,它结合相干衍射与迭代相位恢复算法,将晶体学与显微学融为一体。
多层电子叠层成像虽然能够实现亚埃级的横向分辨率,但其深度分辨率通常仅为纳米量级。叠层原子电子断层成像(pAET)已经可以测定纳米材料的三维原子结构,但想要可靠分辨单个轻原子依旧十分困难。
加州大学洛杉矶分校缪建伟(Jianwei Miao)等人以转角双层石墨烯这一莫尔体系为研究模型,利用 pAET 技术实现了 6648 个碳原子的三维定位,定位精度可达 0.12 ?。
重建得到的三维原子结构揭示:莫尔超胞内层间距与面外褶皱和堆叠方式密切相关,同时体系存在手性晶格畸变,呈现出类梅隆、类反梅隆以及类反斯格明子的拓扑结构。
基于实测原子结构开展的密度泛函理论计算表明,相较于弛豫理想模型,该体系会出现能带窄化,并在 K 点打开能隙。
多层 pAET 仿真结果进一步证明,该方法有潜力拓展至含氮空位中心的金刚石以及无定形碳体系。该工作证实 pAET 可用于单个碳原子的三维成像,为建立轻元素材料三维原子结构与其物性之间的关联开辟了途径。
缪建伟,1991年毕业于杭州大学物理系,1994年缪建伟博士在中国科学院获得硕士学位。1999年在美国纽约州立大学获得物理学博士学位。缪建伟博士是在三维衍射显微分析方面的美国知名学者和专家,学术成果显著,他于1999年在不用晶体的情况下就如何进行X光结晶学分析方面,做出了开创性的实验工作。2000年至2004年在美国斯坦福大学线性加速器中心任职,现于美国加州大学洛杉矶分校物理系任教。
https://www.nature.com/articles/s41565-026-02316-9
信息来源:碳谷
2026中国国际石墨烯创新大会
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