转载来源:半导体封装 重磅!从FOWLP到HBM,先进封装开始“卷材料”:液态塑封崛起! http://mp.weixin.qq.com/s?__biz=MzkzNTkyOTc3NQ==&mid=2247496706&idx=1&sn=6b111550c98082a22df713586453f1be&scene=45#wechat_redirect
更多封测信息,推荐关注:
1
半导体封测,半导体官方群!
一直被抄袭,从未被超越!
半导体封测,半导体官方群!
一直被抄袭,从未被超越!
《台积电传》持续连载中
《台积电传 01》 — 序言:台积电从何而来?
《台积电传 02》 — 张忠谋到底是怎样想出“晶圆代工”这件事的?
《台积电传 03》|台积电凭什么活下来?——没有自己的芯片,它靠什么赚钱?
《台积电传 04》|台积电为什么能把制程做到世界第一?——从1.5微米到5纳米:一场持续30多年的“技术军备竞赛”
《台积电传》05|为什么苹果、英伟达都离不开台积电?——一座晶圆厂,如何变成全球芯片公司的“共同底座”?
《台积电传》06|台积电为什么敢把工厂建到美国?——从“商业选择”到“国家战略”:一家晶圆厂,为什么突然成为世界争夺的对象?
AI芯片越做越大,先进封装为什么开始“卷材料”?
——从FOWLP、PLP到HBM与2.5D/3D,液态塑封LCM正在成为先进半导体封装的新关键
AI芯片的竞争,正在从晶体管数量、先进制程和算力,逐渐延伸到一个过去很少被普通人关注的领域——封装材料。
当GPU、ASIC、HBM和Chiplet被集成到越来越复杂的2.5D/3D封装系统中,芯片之间的距离越来越近,互连越来越密,封装面积却越来越大。过去只需要把芯片“包起来”的塑封材料,如今必须同时解决翘曲、微米级填充、机械应力、热稳定性以及高密度互连保护等问题。
这意味着,先进封装的竞争已经不仅是CoWoS、中介层、RDL、混合键合等工艺的竞争,材料正在成为决定先进封装能否规模量产的另一条技术主线。
近期,汉高(Henkel)围绕先进半导体封装提出液态塑封材料(Liquid Compression Molding,LCM)解决方案,并将应用进一步延伸至FOWLP、PLP、2.5D/3D以及HBM等场景。
一个越来越清晰的产业趋势正在出现:当先进封装进入微米级互连时代,材料本身也必须跟着“先进”起来。
一、AI芯片越来越复杂,先进封装为什么首先难在材料?
过去几十年,半导体性能提升主要依靠晶体管微缩。
但进入AI时代之后,仅仅依靠制程升级已经很难满足算力增长需求。
于是,GPU、CPU、NPU、I/O Die、HBM等不同芯片开始通过Chiplet、2.5D和3D封装组合成一个庞大的计算系统。先进封装承担的角色,也由过去单纯的芯片保护和电气连接,逐渐升级为决定系统性能的重要组成部分。
问题随之而来。
芯片数量增加意味着封装面积扩大;HBM堆叠意味着结构越来越高;互连密度提高意味着凸点间距越来越小;大尺寸中介层与复杂RDL又会带来新的机械应力和热应力。
尤其是“翘曲”。
可以把一块先进封装理解成由硅、铜、树脂、基板等不同材料拼起来的复杂“三明治”。这些材料的热膨胀系数并不完全相同,经历加热、固化、冷却之后,各层收缩程度不同,整个封装就可能发生弯曲。
封装越大,这个问题通常越难控制。
如果翘曲过大,后面的研磨、RDL、焊球、键合以及组装工序都可能受到影响,严重时甚至会造成互连失效和芯片损伤。
因此,先进封装材料需要同时做到几件看似矛盾的事情:足够流动,可以进入极小间隙;固化后足够稳定,可以保护芯片;机械应力又不能太高,否则可能损伤裸片;同时还要控制整个晶圆、面板或者封装结构的翘曲。
这正是液态塑封材料开始受到重视的重要背景。
二、什么是液态塑封LCM?为什么先进封装越来越需要它?
传统塑封并不是新技术。
大量消费电子、汽车电子和功率半导体早已采用环氧模塑料保护芯片。但是AI芯片带来的问题在于,传统封装正在进入过去并不存在的尺寸和精度范围。
根据汉高提供的技术资料,传统固体模塑材料填料上限粒径通常约25—50μm,同时模塑压力相对较高。
但先进封装内部的间距正在快速缩小。
当HBM、Chiplet和高密度互连进入几十微米甚至更细的尺度,如果填料颗粒本身已经接近互连间距,就很难保证材料顺畅进入所有空间。
液态塑封LCM的价值由此体现出来。
其核心思路可以简单理解为:利用具有高流动性的液态模塑材料进入芯片周围及微小间隙,随后固化形成机械保护结构。
汉高资料显示,目前部分传统塑封材料填料粒径约20—25μm,而前沿液态塑封材料已经可以采用最大粒径10μm甚至更小的填料。
颗粒变小带来的一个重要价值,就是更容易进入高密度互连形成的狭窄空间。
这对于HBM尤其重要。
随着HBM继续向更高堆叠层数、更密集互连发展,底部填充材料必须穿过极其狭窄的空间,同时尽可能避免气泡、空洞和局部填充不足。
因此,未来先进封装材料比拼的可能不只是“能不能把芯片封起来”,而是能不能在越来越小的尺度下完成稳定、均匀且低应力的封装。
三、FOWLP之后,液态塑封正在走向PLP
液态塑封材料的重要应用之一,是晶圆级封装WLP。
其中又可以分为FIWLP(扇入型晶圆级封装)和FOWLP(扇出型晶圆级封装)。
尤其值得关注的是FOWLP。
FOWLP通常需要先将晶圆切割,把合格裸片重新排列到载板上,再通过模塑形成“重构晶圆”,之后进行研磨、RDL重布线、焊球以及切割等工艺。
这里有一个非常关键的问题:重构后的结构必须尽量保持平整。
一旦模塑之后出现严重翘曲,后面的光刻、RDL以及其他精密工序都会受到影响。因此,模塑材料的流动性、固化收缩、热膨胀系数以及模量都会直接影响最终良率。
而在FOWLP之后,产业又开始探索PLP——Panel Level Packaging,面板级封装。
它可以被理解为把“圆形晶圆”进一步扩大成“方形面板”。
汉高资料列举的面板规格包括300×300mm、510×515mm以及600×600mm等。理论优势非常直观:方形面板空间利用率更高,而且面积可以做得更大,一次能够加工更多芯片,因此具有进一步降低单位封装成本的潜力。
但尺寸扩大同时放大了翘曲问题。
一块300mm晶圆出现轻微应力,与一块600×600mm大面板产生同样的材料应力,最终表现出来的形变可能完全不是一个量级。
所以从FOWLP走向PLP,实际上也是一次材料技术升级。
汉高给出的目标指标是,将晶圆整体翘曲控制在1.0mm以内、面板翘曲控制在1.5mm以内,以降低机械损伤以及后续工序受到影响的风险。
这也是为什么PLP能否大规模产业化,不能只看设备和工艺,还要看材料。
四、HBM越来越热,L-MUF可能成为另一个关键材料赛道
相比普通晶圆级封装,HBM带来的材料挑战更加极端。
今天AI加速器的典型架构已经不是一颗GPU单独工作,而是GPU或AI ASIC与多颗HBM通过先进封装形成一个庞大的计算系统。
这使底部填充材料的重要性迅速上升。
传统方案之一叫CUF,即Capillary Underfill,毛细底部填充。它利用毛细作用,让底部填充胶流入芯片与基板或者中介层之间的缝隙。
这套工艺已经非常成熟,但步骤较多。
汉高提出的L-MUF,即Liquid Molded Underfill,液体模塑底部填充,则试图把“底部填充”和“塑封”进一步整合。
按照汉高给出的方案,传统CUF相关流程可能需要约5个主要步骤,而L-MUF可以缩减到约3步,工艺步骤减少接近50%。
更重要的是,一种材料可以同时承担两项任务:向芯片底部微小空间进行填充,同时对芯片周围实施塑封保护。
对于未来大规模HBM封装而言,这种工艺整合具有潜在价值。
因为先进封装最终不仅要追求性能,还必须解决成本、良率、节拍以及规模化制造的问题。
如果能够减少材料种类、设备切换和工艺步骤,就意味着有机会降低制造复杂度。
因此,L-MUF真正值得关注的地方,不只是“换了一种胶”,而是可能改变部分先进封装的制造流程。
五、23μm凸点间距,对封装材料意味着什么?
汉高此次披露的一组参数尤其值得注意。
针对L-MUF应用,其LCM体系采用超细填料,并结合低膨胀系数、低模量树脂体系,可以针对最大11mm×11mm尺寸、凸点节距23—66μm的HBM芯片进行细间距填充。
23μm是什么概念?
1μm只有1毫米的千分之一。
23μm已经进入肉眼完全无法分辨的尺度。在如此密集的凸点之间,液态材料不仅必须“流进去”,还要尽可能完整地填满空间,不能形成明显空洞,同时不能在固化过程中产生过大的机械应力。
这也是为什么先进封装材料越来越像一项精密化学工程。
树脂体系、填料粒径、颗粒分布、黏度、热膨胀系数、弹性模量、固化行为以及导热能力,都需要协同设计。
任何一个指标出现问题,都可能影响最终封装可靠性。
尤其随着HBM向更高堆叠发展,材料面对的已经不再只是单颗裸片,而是由逻辑芯片、中介层、HBM以及大量微凸点组成的复杂三维系统。
先进封装越复杂,材料的重要性反而越高。
六、汉高为什么押注无酸酐型液态塑封材料?
针对这些挑战,汉高推出了LOCTITE ECCOBOND LCM 1000系列液态塑封材料。
按照汉高披露的信息,这是一套无酸酐型LCM体系,可用于大规模单颗芯片晶圆级塑封,同时覆盖FIWLP、FOWLP等应用,并具备向面板级封装延伸的潜力。
其中,LOCTITE ECCOBOND LCM 1000AG-1在300mm晶圆测试中,所有测试工况下翘曲度均低于2.0mm。
另一方面,汉高还针对L-MUF重新优化LCM化学主链,通过超细填料、低膨胀系数和低模量树脂体系改善材料的流动与应力表现。
而下一步可能更加值得关注的是“高导热”。
AI芯片现在面对的另一场战争,就是散热。
GPU、HBM和Chiplet封装到同一系统后,局部热流密度持续提高。过去封装材料首先考虑的是机械保护和绝缘,而未来材料还可能需要承担越来越重要的热管理任务。
因此,汉高提出L-MUF体系还可以进一步调配高导热版本,以满足复杂器件对热稳定性与机械稳定性的需求。
如果这一方向持续推进,塑封材料的角色将进一步发生变化——从单纯的“保护材料”,逐渐成为热、机械、电气与制造工艺之间的综合协调层。
七、先进封装的下一场竞争,可能就在材料
过去几年,半导体产业谈先进封装,关注最多的是CoWoS、SoIC、Chiplet、硅中介层、RDL以及混合键合。
但当这些技术真正进入大规模量产阶段,一个更加基础的问题正在浮出水面:再先进的结构,最终也必须能够制造出来。
而制造离不开材料。
特别是在2.5D/3D、HBM、FOWLP和PLP时代,封装材料承担的任务已经从“保护芯片”变成同时解决翘曲、应力、细间距填充、热稳定性、机械可靠性以及工艺兼容性。
这也是先进封装产业一个容易被忽视的变化。
过去芯片产业的技术升级,首先想到的是光刻机、晶圆厂和先进制程;AI时代,人们开始关注CoWoS和HBM;下一阶段,封装材料、底部填充胶、临时键合材料、TIM热界面材料等更加底层的环节,也可能获得越来越高的产业关注度。
尤其当先进封装从“能做出来”进入“数百万颗、数千万颗稳定量产”的阶段,材料一致性、可靠性和成本的重要性会被进一步放大。
对于汉高这样的材料厂商而言,这也是新的增长机会。
它们不制造GPU,不生产HBM,也不拥有先进制程晶圆厂,但AI芯片越复杂,芯片之间需要被连接、填充和保护的结构就越多,对高性能材料的需求反而越高。
从这个角度看,AI半导体产业链正在出现一场从芯片向材料层不断下沉的价值重估。
结语:AI芯片拼到最后,也是一场材料战争
先进封装正在进入一个新的阶段。
当芯片尺寸越来越大、HBM堆叠越来越高、凸点间距进入几十微米、2.5D/3D结构越来越复杂,仅仅把不同芯片“放在一起”已经不够。
它们必须能够稳定地连接在一起、填充起来、保护起来,并经历研磨、光刻、回流焊、高温循环以及长期运行之后依然可靠。
液态塑封LCM、L-MUF的价值正是在这里体现出来。
从FOWLP到PLP,从Chiplet到HBM,从几十微米互连到未来更加精细的封装结构,先进封装正在把材料科学推到过去从未有过的重要位置。
摩尔定律放缓之后,人们常说“先进封装延续摩尔定律”。
但再往产业链深处看,还可以补充一句:
先进封装要继续向前,首先要让材料跟得上。
而这,或许正是AI芯片下一场不那么显眼、却越来越重要的技术战争。
点击看:《台积电传》09|台积电为什么越来越依赖先进封装?——当晶体管越来越小,台积电为什么开始把战争搬到晶圆之外?
- End -
半导体封测,半导体官方媒体!
一直被抄袭,从未被超越!www.fengce.com.cn欢迎免费加入!2025【半导体封测官方群】
半导体封测(www.fengce.com.cn)半导体封装(专业媒体)
半导体封装是聚焦半导体后道封测全产业链的垂直专业媒体,深耕先进封装与传统封装领域,是连接产业端与技术端的权威信息枢纽。媒体聚焦2.5D/3D IC、Chiplet、FOPLP、晶圆级封装等前沿技术,覆盖封装工艺、设备材料、测试方案、可靠性标准及产业政策,兼顾技术干货与市场动态。核心读者涵盖封测厂、IC 设计公司、IDM、设备材料商、科研院所及终端应用企业的技术与管理人才。媒体以深度原创、行业专访、技术白皮书、产业峰会等形式,传递全球封测趋势与国产替代进展,助力产业协同与技术创新,是后摩尔时代先进封装领域的核心信息门户与交流平台。
股票
板块
用户
资讯
评论 (0)